Analysenwaagen
Autoklaven
Diamantdrahts�ge
Elektrochemische Raster-Mikroanalyse (SECM)
Fused deposition 3D-Drucker
Gefriertrocknung
Kritisch-Punkt-Trocknung
Lichtmikroskope Hell-/Dunkelfeld, Polarisation, Phasenkontrast, schr�ge Beleuchtung, Fluoreszenz
Mikrofotographie
Mikrokontaktdruck- und Nano-Imprintlithograph (�-CP, NIL)
Monochromator, Xenonlampe
Muffelofen mit Schutzgasoption
Plasmakammer Kilohertz
Plasmaspektrometer (ICP)
Pr�fschr�nke Temperatur, Feuchte, UV-Vis Beleuchtung
Rasterelektronenmikroskop Sekund�r- und R�ckstreudetektor (REM, SE, BSE), Energiedispersive R�ntgen-Elementanalyse (EDX)
R�ntgendiffraktometrie (XRD)
Rotationsschneidm�hle
R�hrwerke
Schlenk-Apparat
Schlittenmikrotom
Schmelzflussindexpr�fger�t
Spektrometer, UV-Vis
Thermogravimetrische und Differentialkalorimetrische Analyse (TGA, DSC)
Thermostaten
Universalpr�fmaschine
